金東霖科技有限公司

菲希爾膜厚儀是結合了測量鍍層厚度及物料分析雙功能在一整體的設計，此儀器是采用能量散射X-射線螢光測量原理，符合國際標準來進行非破壞及不接觸的測量。除了可以測量鍍層厚度外，還可以計算合金中各種元素的含量。至于需要測量電鍍槽內的金離子停含量的濃度也是十分簡單。具備手動的測量臺，可移動的范圍是50MM*50MM，不需要打開測量門便可以移動不同測量，更方便操作。

菲希爾膜厚儀采用的測量法特點有以下幾種：

1、不需要先對樣品進行處理便能測量。樣品可以直接放入測量室進行測量，不需特別處理樣品。
2、不需要復雜、昂貴的儀器來抽真空，便能在正常的環境下測量從元素Z＝13（鋁）至U＝92（鈾）
3、固體、漿狀及液體的樣本也可以測量。即使是極小不規則的測量面積也可快速，免接觸的測量。

菲希爾膜厚儀應用范圍如下： 
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。 
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。 
最多24種鍍層（使用WinFTM? V.6軟件）。 
分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。 
分析電鍍溶液中的金屬離子濃度。
聯系人：王生：13316557996
電話：0755-29371655  
傳真：0755-29371653   
www.kinglinhk.com  
深圳寶安沙井北環大道新橋綜合大樓502